材料现代研究方法 研究生用

1 (p1): 第1章 电子衍射原理及其分析方法
1 (p2): 1.1 电子衍射原理
24 (p3): 1.2 单晶电子衍射谱的标定
40 (p4): 1.3 高阶劳厄区衍射谱的标定
44 (p5): 1.4 透射电子显微镜样品制备技术
52 (p6): 1.5 晶体取向关系测定
61 (p7): 1.6 立方晶系孪晶电子衍射分析
69 (p8): 1.7 层错的衍衬分析
78 (p9): 1.8 界面的衍衬分析
89 (p10): 1.9 位错的衍衬分析
102 (p11): 习题
103 (p12): 参考文献
105 (p13): 第2章 材料表面分析技术
105 (p14): 2.1 表面分析方法的物理基础
106 (p15): 2.2 俄歇电子能谱仪
118 (p16): 2.3 X射线光电子能谱仪
133 (p17): 2.4 AES和XPS在材料科学研究中的应用
140 (p18): 习题
141 (p19): 参考文献
142 (p20): 第3章 材料热分析方法
144 (p21): 3.1 差热分析与差示扫描量热法
162 (p22): 3.2 热重法
168 (p23): 3.3 热机械法
178 (p24): 3.4 影响热分析测量的实验因素
182 (p25): 习题
183 (p26): 参考文献
184 (p27): 附录
184 (p28): 附录1 常用晶体学公式
190 (p29): 附录2 立方晶体晶面（或晶向）夹角表
204 (p30): 附录3 电子衍射花样标定时用的数据表
230 (p31): 附录4 立方晶系？表（？）
232 (p32): 附录5 化学减薄液的成分
233 (p33): 附录6 电解抛光液的成分
234 (p34): 附录7 供制备萃取复型用的金属试样的电解抛光和腐蚀规范
236 (p35): 附录8 Mg X射线元素谱线位置
238 (p36): 附录9 Al X射线元素谱线位置
240 (p37): 附录10 元素的电负性
241 (p38): 附录11 元素有分析意义的俄歇线
242 (p39): 附录12 电子结合能标识元素表（以MgKα为激发源）
244 (p40): 附录13 电子结合能标识元素表（以AlKα为激发源）
246 (p41): 附录14 顺磁态与逆磁态离子
247 (p42): 附录15 原子灵敏度因子（ASF）
249 (p43): 附录16 钢与合金中常见相的晶体学数据
256 (p44): 附录17 不同c/a下，四方晶系边长比（r1/r2）和夹角（？）表（部分）
257 (p45): 附录18 不同c/a下，六方晶系边长比（r1/r2）和夹角（？）表（部分）